高溫試驗(yàn)箱的目的是測試產(chǎn)品在高溫環(huán)境下儲(chǔ)存或使用的適用性。只適用于加熱時(shí)間長后能達(dá)到溫度穩(wěn)定的樣品。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從樣品在規(guī)定的試驗(yàn)溫度水平上達(dá)到溫度穩(wěn)定的瞬間開始計(jì)算。對于試驗(yàn)期間無法達(dá)到溫度穩(wěn)定的樣品，如航空航天產(chǎn)品，建議采用特殊的高溫試驗(yàn)。

　　高溫試驗(yàn)箱的試驗(yàn)方法如何選擇是我們進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)的一個(gè)難題，特別是對于一些剛接觸試驗(yàn)的制造商來說，怎么選擇是特別困難的。以下方法供您參考：

 

　　1、如果試驗(yàn)的目的是確定電子電工產(chǎn)品在高溫條件下儲(chǔ)存或工作狀態(tài)下的適用性，一般應(yīng)區(qū)分非散熱樣品和散熱樣品。

 

　　2、高溫試驗(yàn)箱測試散熱樣品時(shí)，應(yīng)采用低空氣流速，以滿足要求“自由空氣”條件。

 

　　3、高溫試驗(yàn)非散熱樣品時(shí)，應(yīng)采用高空氣流速。

 

　　4、“自由空氣”條件是指空氣運(yùn)動(dòng)只受散熱樣品本身的影響，樣品輻射的能量全部被周圍空氣吸收。

 

　　5、低空氣流速試驗(yàn)要求箱（高溫試驗(yàn)箱或高低溫試驗(yàn)箱）風(fēng)速盡可能低，一般不超過0.5m/s。